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XRF膜厚測量儀
FT110
即放即測! 2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量! 3.可無標樣測量! 4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!

FT9300
FT9300配備有小型高功率的X光管,可以得到高準確性的量測。結合微細準直器及自動變焦光學系統,可以進行樣品極小區域的量測,亦可針對不規則表面的樣品進行量測。
 
FT9400
高效能的膜厚儀配置75W高功率X光管及雙檢測器(半導體檢測器及正比例式計數管) ,符合所有鍍層厚度量測上的需求。包含薄膜、合金層及普通顯微鏡看不出的量測。另外,FT9400可以使用於異物的定性分析及元素分析,如同鍍層量測一樣容易。
 
FT9500
先進的x-ary微聚焦技術達到高光輝及實際直徑小於0.1mm的光束。因此FT9500可以應用於微細的點及極薄的鍍層量測,如導線架、端子連接器及軟性電路板上之微細及極薄的鍍層領域,它們無法使用普通的機型來量測,因為其無法於量測的樣品中獲得充足的螢光x-ray能量。
 
FT150
由日本日立高科研發出的新一代奈米級膜厚量測儀。提升了量測的精準度及更佳的操作方式。
 
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