品名

 X射線螢光鍍層厚度測量儀 

型號

FT150

概要

新推出的奈米級X-ray膜厚量測儀FT150，配置了聚焦光學系統（光學管）和半導體偵測器。不僅操作上更加容易，還擁有更優異的解晰能力。在量測工作上能夠提供多的幫助。

特點

1.微小範圍的高精度量測:
F150系列照射範圍能達到直徑30微米(FWHM:17um)，較以往的FT9500X系列，有其兩倍的X-ray強度。只需要一半的量測時間即可以達到與FT9500X相同的量測精度。

2.完整的產品線，可符合各種的應用需要:
對應在導線架、連接器等各類電子元件上的微小部份進行超薄厚度的檢測。
。對應在大型電路的量測，最大尺吋是
。600mmx600mm。對應在基材上鎳鍚鍍層的特殊量測。

3.操作容易及無安全顧慮:
單手即可操作閘門，更易於取放量測樣品。完全的密封結構設計，完全不用擔心輻射洩露的可能性。

4.便於找取量測位置設計:
透過大型觀景窗及內部結構設計，在閘門關起的狀態下，仍可容易的觀查到檢測的部位。

5.清晰的樣品影像:
配置了高解晰的攝影機與高倍率的數位變焦能力，在量測微小物件時，可以輕易找到量測位置。並配置了LED燈來取代以往的鹵素燈，可加的節能與環保。

6.新的圖型化操作界面:
直覺式的設計，可根據您的需要，設定專屬的界面，讓量測工作可以進行的更流暢。