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XRF膜厚測量儀

X Ray膜厚儀 
專精於精密量測及檢測半導體製造及封裝電路板(可測量電鍍鍍層,保護產品不氧化)。

產品列表:

FT110A 
1. 即放即測!
2. 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量!
3. 可無標樣測量!
4. 通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!

FT150
由日本日立高科研發出的新一代奈米級膜厚量測儀。提升了量測的精準度及更佳的操作方式。

 
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