品名

 X射線螢光鍍層厚度測量儀 

型號

FT150

概要

新推出的奈米級X-ray膜厚量測儀FT150,配置了聚焦光學系統(光學管)和半導體偵測器。不僅操作上更加容易,還擁有更優異的解晰能力。在量測工作上能夠提供多的幫助。

特點

 

1.微小範圍的高精度量測:
F150系列照射範圍能達到直徑30微米(FWHM:17um),較以往的FT9500X系列,有其兩倍的X-ray強度。只需要一半的量測時間即可以達到與FT9500X相同的量測精度。

2.完整的產品線,可符合各種的應用需要:
對應在導線架、連接器等各類電子元件上的微小部份進行超薄厚度的檢測。
。對應在大型電路的量測,最大尺吋是
600mmx600mm。對應在基材上鎳鍚鍍層的特殊量測。

3.操作容易及無安全顧慮:
單手即可操作閘門,更易於取放量測樣品。完全的密封結構設計,完全不用擔心輻射洩露的可能性。

4.便於找取量測位置設計:
透過大型觀景窗及內部結構設計,在閘門關起的狀態下,仍可容易的觀查到檢測的部位。

5.清晰的樣品影像:
配置了高解晰的攝影機與高倍率的數位變焦能力,在量測微小物件時,可以輕易找到量測位置。並配置了LED燈來取代以往的鹵素燈,可加的節能與環保。

6.新的圖型化操作界面:
直覺式的設計,可根據您的需要,設定專屬的界面,讓量測工作可以進行的更流暢。


規格書 

型號

FT150

FT150h

FT150L

检测元素

原子序13Al)~92U

X射線管

管電壓:45kV

Mo 

Mo

檢测器

半導體檢測器(不需要液態氮)

X-ray聚焦光學系統

光學管

樣品觀察

CCD攝影機(100萬像素)

調整焦距

雷射對焦、自動對焦

最大樣品尺寸

400W) x 300D) x 100H) mm

400W) x 300D) x 100H) mm

600W) x 600D) x 20H) mm

行程尺寸

400(W)×300(D)mm

400(W)×300(D)mm

300(W)×300(D)mm

操作系統

桌上型個人電腦、22吋液晶顯示器

分析方法

薄膜FP法 (最大5層膜、10元素)、標準檢量線法、定性分析

數據處理

安裝有Microsoft® ExcelMicrosoft® Word

安全功能

樣品門們動上鎖

消耗電量

300VA以下

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